5 В, 3 мкм КМОП, 1 ПКК, 1 металл
| Параметр | Значэнне |
|---|---|
| Характеристика процесса | Количество фотолитографий, шт. 11 Проектные нормы, мкм 2.0 Подложка: КЭФ 4.5 Глубина N/P-кармана, мкм 6-8 Подзатворный SiO2, Å 425/300 Межслойный диэлектрик: БФСС Длина канала:NMOS/PMOS, мкм 3-4 шаг ПКК, мкм 10 контакты, мкм 4*4 шаг металл, мкм 10 |
| Применение, элементная база | Логические ИС малой и средней степени интеграции с Еп до 5 В NMOS: Vtn= 0.8-1.2B, Ic>4мА. Uпр>8 В PMOS: Vtp= 0.8-1.2B, Ic>2мА, Uпр>8В |
Тэл.: .....(+375 17) 272 3729
......(+375 17) 353 2257
Факс:......(+375 17) 353 2257
Адрас электроннай пошты: export@integral.by