1.2 мкм КМОП, 1ПКК, 2Ме
| Параметр | Значэнне |
|---|---|
| Характеристика процесса | Количество фотолитографий, шт. 11 Проектные нормы, мкм 1.2 Подложка: КДБ12 Глубина N/P-кармана, мкм 5/6 Подзатворный SiO2, Å 250-300 Межслойный диэлектрик: БФСС Длина канала: NMOS/PMOS, мкм 1.4/1.6 шаг ПКК, мкм 2.8 контакты, мкм 1.6х1.6 шаг металл 1, мкм 3.4 шаг металл 2, мкм 3.0 |
| Применение, элементная база | КМОП БМК NMOS: Vtn= 0.7B, Ic>11.5мА. Uпр>12 В PMOS: Vtp= 0.8B, Ic>4.5мА, Uпр>12В |
Тэл.: .....(+375 17) 272 3729
......(+375 17) 353 2257
Факс:......(+375 17) 353 2257
Адрас электроннай пошты: export@integral.by