Биполярная технология изготовления pnp-транзисторов с областью рабочих напряжений (200-300) В
| Параметр | Значэнне |
|---|---|
| Характеристика процесса | питаксиальная структура Подложка КДБ 0,03 (111) Толщина эпитаксиального слоя, мкм 40-45 Удельное сопротивление, Ом x см 40-50 7 фотолитографий (контактная) База: ионная имплантация фосфора, глубина, мкм 3-5,5 Эмиттер: диффузия бора Защита p-n перехода коллектор-база SiPOS Металлизация: Al 1,4 мкм Обр. сторона: Ti-Ni-Ag-Sn-Pb-Sn |
| Применение, элементная база | Uкб=(250-300) B Uкэ=(200-250) В Iк=(0,4-0,5) А h21э>40 |
Тэл.: .....(+375 17) 272 3729
......(+375 17) 353 2257
Факс:......(+375 17) 353 2257
Адрас электроннай пошты: export@integral.by