Биполярная технология изготовления мощных npn-транзисторов Дарлингтона
| Параметр | Значэнне |
|---|---|
| Характеристика процесса | Подложка КЭС 0,01 (111) Толщина эпитаксиального слоя, мкм 27-38 Удельное сопротивление, Ом x см 8-21 6-7 фотолитографий (контактная) База: ионная имплантация, глубина, мкм 6-8 Эмиттер: диффузия, глубина, мкм 2,5-5,5 Защита p-n перехода коллектор-база SiPOS Металлизация: Al 4,5 мкм Обр. сторона: Ti-Ni-Ag Пассивация: НТФСС(ПХО) |
| Применение, элементная база | Uкб=(330-350) B Uкэ=(150-350) В Iк=(5-15) А h21э>100 |
Тэл.: .....(+375 17) 272 3729
......(+375 17) 353 2257
Факс:......(+375 17) 353 2257
Адрас электроннай пошты: export@integral.by